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DRAM和閃存封裝的通用監控老化測試儀。通過在不同條件下控制每個溫度區，客戶能夠在可靠性驗證測試中最大限度地提高系統利用率。系統有能力測試所有功能項目。
Chorus 1200
HSBI（High Speed Memory Burn in Tester）是200MHz/400MBPS Memory Burn in Tester，集成了200MHz模式生成器、定時生成器和外形因素，提供故障存儲器和冗余分析處理器作為可選。
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