HSBI（High Speed Memory Burn in Tester）是200MHz/400MBPS Memory Burn in Tester，集成了200MHz模式生成器、定時(shí)生成器和外形因素

• 提供故障存儲(chǔ)器和冗余分析處理器作為可選。

• 包括測試程序開發(fā)工具和數(shù)據(jù)分析工具

• 支持DDR4/5 DRAM、LPDDR、NAND閃存

• 200MHz模式序列器

• 全功能測試 

• 每個(gè)插槽220A DPS 

• 基于C++的測試程序 

• -20℃至+150℃，靈活溫區(qū)調(diào)整，-40℃最低可選

• 2室24插槽 

• 自動(dòng)化接口開放